泰克爲解決工程難題不斷創新，使用測試界的魔法棒——光隔離探頭，幫工程師一起破解SiC、GaN柵極動態測試難題。通過將探頭與示波器的電流隔開，IsoVu探頭完全改變了功率研究人員和設計人員進行寬禁帶功率測量的方式。

SiC、GaN作爲最新一代功率半導體器件具有遠優于傳統 Si 器件的特性，能夠使得功率變換器獲得更高的效率、更高的功率密度和更低的系統成本。但同時，SiC、GaN極快的開關速度也給工程師帶來了使用和測量的挑戰，稍有不慎就無法獲得正確的波形，從而嚴重影響到器件評估的准確、電路設計的性能和安全、項目完成的速度。SiC、GaN動態特性測量中，最難的部分就是對半橋電路中上橋臂器件驅動電壓VGS的測量，包括兩個部分：開關過程和Crosstalk。此時是無法使用無源探頭進行測量的，這會導致設備和人員危險，同時還會由于跳變的共模電壓而無法獲得准確的結果。

SiC、GaN作爲最新一代功率半導體器件具有遠優于傳統 Si 器件的特性，能夠使得功率變換器獲得更高的效率、更高的功率密度和更低的系統成本。但同時，SiC、GaN極快的開關速度也給工程師帶來了使用和測量的挑戰，稍有不慎就無法獲得正確的波形，從而嚴重影響到器件評估的准確、電路設計的性能和安全、項目完成的速度。SiC、GaN動態特性測量中，最難的部分就是對半橋電路中上橋臂器件驅動電壓VGS的測量，包括兩個部分：開關過程和Crosstalk。此時是無法使用無源探頭進行測量的，這會導致設備和人員危險，同時還會由于跳變的共模電壓而無法獲得准確的結果。

IsoVu光隔離探頭

隔離探頭使用電（光學）或 RF隔離將探頭的參考電壓與示波器的參考電壓（通常接地）隔離。這使電源設計人員能夠在存在大共模電壓的情況下准確解析高帶寬、高電壓的差分信號。泰克開發出一項新技術 (IsoVu)，該技術使用電隔離在高帶寬內提供同類探頭中優秀的共模抑制性能。

與用于測量高壓信號的高帶寬傳統差分探頭相比，隔離性和高頻性相結合的 IsoVu 探頭爲電源設計人員提供更精確的測量結果。應用案例参考涵盖開關模式電源設計、寬禁帶 GaN 和 SiC 設備的功率 FET 設計/分析、逆變器設計、電機驅動設計、BCI 或 ESD 測量、電流分流器測量。

泰克第二代IsoVu光隔離示波器探頭推動第三代半導體發展，爲電源行業帶來技術革新。第二代IsoVu光隔離示波器探頭提供了無與倫比的帶寬、動態範圍、共模抑制以及多功能MMCX連接器的組合，爲上管Vgs測量設置了新的標准，設計者終于能看到以前隱藏的信號特征。

主要特性

•  1 GHz光隔離探頭

•  更小的尺寸提升了DUT連接的便攜性

•  行業領先的的CMRR特性

•  完全光隔離技術

•  完整測試系統

•  比第一代探頭體積縮小80%。