現代寬禁帶功率器件 (SiC, GaN) 上的開關晶體管速度越來越快，使得測量和表征成爲相當大的挑戰。與 HTRB高溫偏置試驗一 一對應，AQG324 該規定了動態偏置試驗，即動態高溫反偏（DHRB，Dynamic high-temperature reverse bias）。功率半導體器件測試系統

設備簡介

KC-3105 測試系統中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構模塊化，通訊協議、通訊接口等采用統一標准，便于後期擴展和維護。該系統集成度高、應用覆盖面廣，系統采用軟、硬件一體化設計且功能豐富，在保證系統穩定運行的同時，可以快速滿足功率半導體可靠性測試需求。功率半導體測試系統

特點

KC-3105系統包含 ：硬件平台 + 實時軟件，其中硬件平台包含：多 通 道 高壓脈沖電源、電加熱測試夾具、FTP3000恒流源、FTP寬範圍高壓電源、測量采集控制模塊等，主要特點如下:

1、高壓高頻高精度脈沖源：dv/dt>50v/ns、頻率50KHz；

2、高精度測試，電流分辨率10pA，電壓分辨率100nV；

3、支持多參數測量：Vsd電壓、Vgsth電壓、Rds電阻、Igss漏電流、Idss漏電流、溫度；

4、具備數據管理功能，上位機可實現數據曲線、報告及自動保存；

5、高效率80通道測試、每個通道獨立控制，故障斷開及時，互不影響；

6、保護功能：具備器件防呆，對于帶電、高溫開箱、測試參數異常、驅動電路異常可實現保護功能，

7、具備測試夾具具電子化管理功能，集成電加熱功能測試夾具；

8、內部模塊化設計，以及自我檢驗功能，可靠度高；

9、支持支持擴展外接標准儀表，客制化；功率半導體測試系統

參考標准

AQG 324 機動車輛電力電子轉換器單元用功率模塊的驗證

AEC Q101車用分立半導體元器件的基于失效機理的應力測試驗證